
一种3D树枝状结构的光电探测器及其制作方法
- 申请号:CN201610536738.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院金属研究所
- 公开(公开)号:CN107591457A
- 公开(公开)日:2018.01.16
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种3D树枝状结构的光电探测器及其制作方法 | ||
申请号 | CN201610536738.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107591457A | 公开(授权)日 | 2018.01.16 |
申请(专利权)人 | 中国科学院金属研究所 | 发明(设计)人 | 姜辛;张兴来;刘鲁生;刘宝丹 |
主分类号 | H01L31/0352(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I |
专利有效期 | 一种3D树枝状结构的光电探测器及其制作方法 至一种3D树枝状结构的光电探测器及其制作方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种三维(3D)树枝状结构的光电探测器及其制作方法,属于光电探测器领域。光电探测器自下而上依次有Si基底、绝缘SiO2层、3C?SiC/ZnO三维树枝状结构异质结材料和金属电极。首先,利用热碳还原的方法制备3C?SiC纳米线主干;然后,采用沉积的方法在3C?SiC纳米线表面沉积一层ZnO种子层;再利用水热的方法在ZnO种子层上生长ZnO纳米线枝杈,形成3C?SiC/ZnO三维树枝状结构异质结材料;最后,将单根3C?SiC/ZnO三维树枝状结构异质结材料转移至SiO2/Si衬底,利用光刻和剥离技术在异质结材料两端镀上金属电极,既得所述光电探测器。本发明光电探测器具有更大的吸光面积和吸光范围,以及更有效的光生载流子分离率、更高的光电流增益和更快的光响应速度。 |
交易流程
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