
一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置与方法
- 申请号:CN201710247966.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号:CN107144419A
- 公开(公开)日:2017.09.08
- 法律状态:实质审查的生效
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置与方法 | ||
申请号 | CN201710247966.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107144419A | 公开(授权)日 | 2017.09.08 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电研究院 | 发明(设计)人 | 齐月静;卢增雄;齐威;苏佳妮;杨光华;张清洋;李兵;王宇 |
主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置与方法 至一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置与方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置和测量方法,该装置包括波长可调谐激光器、衰减器、聚焦物镜、Y型光纤耦合器、第一五维调整台、第一物镜、第一小孔板、准直物镜、分光板、第一夏克 哈特曼波前传感器、成像物镜、待测光学系统、球面反射镜、第二夏克 哈特曼波前传感器和数据处理模块。该测量装置结合了第一夏克 哈特曼波前传感器和第二夏克 哈特曼波前传感器,从测量结果中计算待测光学系统的波像差,只需一套测量装置便可实现不同工作波长光学系统像差的测量。 |
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言