专利详情

专利名称	X射线断层扫描方法及系统
申请号	CN201611173895.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107072022A	公开（授权）日	2017.08.18
申请（专利权）人	深圳先进技术研究院	发明（设计）人	石伟;梁栋;洪序达;蒋昌辉
主分类号	H05G1/38(2006.01)I	IPC主分类号	H05G1/38(2006.01)I
专利有效期	X射线断层扫描方法及系统至X射线断层扫描方法及系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明属于X射线成像技术领域，提供了一种X射线断层扫描方法及系统，所述方法包括：在扫描时，控制器按照预设的扫描模式逐个启动多焦斑X光源阵列上的X射线源进行脉冲式发射，并控制当前X射线源按照其预设的脉冲曝光时间照射扫描对象，以使得不同排布位置上的X射线源照射到扫描对象上的表面剂量趋于一致；探测器采集不同排布位置上的X射线源照射到扫描对象后的投影图像，并将所述投影图像传输到终端设备；终端设备根据所述投影图像重建出所述扫描对象的三维图像。本发明通过控制脉冲曝光时间来调整投影图像的质量，相对于调节管电流的方式硬件成本低、调节精度高，且可以在保证成像质量的前提下，有效地降低扫描过程的整体辐射剂量。