平面光学元件绝对面形检测装置
- 申请号：CN201710380378.2
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN107036554A
- 公开(公开)日：2017.08.11
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 平面光学元件绝对面形检测装置 | ||
| 申请号 | CN201710380378.2 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN107036554A | 公开（授权）日 | 2017.08.11 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘世杰;白云波;周游;张志刚;吴福林;王圣浩;鲁棋;王微微;邵建达 |
| 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
| 专利有效期 | 平面光学元件绝对面形检测装置 至平面光学元件绝对面形检测装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种平面光学元件绝对面形检测装置，主要包括激光干涉仪、扩束准直系统、透射镜二维调整系统、反射镜四维调整系统、3个平面光学元件夹具、3个平面光学元件、反射镜旋转电器控制系统等。本发明实现了平面光学元件面形绝对检测，实现了提高检测精度的目的，更能有标志性的评价加工水平，为加工精度的进一步提高提供指导意义。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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