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一种微弱涡流磁场测量装置及方法

  • 申请号:CN201710183694.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN106950516A
  • 公开(公开)日:2017.07.14
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种微弱涡流磁场测量装置及方法
申请号 CN201710183694.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106950516A 公开(授权)日 2017.07.14
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 伍俊;荣亮亮;邱隆清;裴易峰;冯涛;蒋坤;王士良;谢晓明
主分类号 G01R33/06(2006.01)I IPC主分类号 G01R33/06(2006.01)I;G01V3/40(2006.01)I
专利有效期 一种微弱涡流磁场测量装置及方法 至一种微弱涡流磁场测量装置及方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种微弱涡流磁场测量装置及方法,用于测量被测对象的涡流磁场,其中,该装置包括一屏蔽室,所述屏蔽室内设有一亥姆霍兹线圈、一被测对象托台和一磁传感器,所述屏蔽室外设有一数据同步源、一信号源、一功率放大器和一数据采集组件;其中,所述被测对象托台位于所述亥姆霍兹线圈的磁场均匀区,所述信号源和所述功率放大器依次串联在所述数据同步源与所述亥姆霍兹线圈之间;所述数据采集组件连接在所述数据同步源与所述磁传感器之间。本发明不仅提高涡流磁场的测量精度、简化涡流磁场的测量步骤,而且能整体对大尺寸系统的涡流磁场进行精确测量。

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