检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法
- 申请号：CN201610035260.1
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院化学研究所
- 公开(公开)号：CN106981412A
- 公开(公开)日：2017.07.25
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法 | ||
| 申请号 | CN201610035260.1 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN106981412A | 公开（授权）日 | 2017.07.25 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 聂宗秀;朱凯;蒋玉蓉;张宁;熊彩侨;王继云 |
| 主分类号 | H01J49/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J49/00(2006.01)I;H01J49/06(2006.01)I;G01N27/64(2006.01)I |
| 专利有效期 | 检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法 至检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提出了用于检测颗粒质量的质谱装置。该装置包括：电离源；离子阱；样品靶；激光器；紫外灯；分光镜；成像器；光电检测器以及计算单元。由此，可以在稳定的测量环境中，利用紫外灯实现多次改变单个带电颗粒的电荷数，进而确定该单个带电颗粒的质量，从而可以提高检测结果的可靠性。 | ||
交易流程
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专利 -
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