
一种在绝缘衬底上制备图形石墨烯的方法
- 申请号:CN201510952653.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 公开(公开)号:CN106904599A
- 公开(公开)日:2017.06.30
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种在绝缘衬底上制备图形石墨烯的方法 | ||
申请号 | CN201510952653.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106904599A | 公开(授权)日 | 2017.06.30 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明(设计)人 | 狄增峰;汪子文;戴家赟;王刚;郑晓虎;薛忠营;张苗;王曦 |
主分类号 | C01B32/186(2017.01)I | IPC主分类号 | C01B32/186(2017.01)I;H01L21/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种在绝缘衬底上制备图形石墨烯的方法 至一种在绝缘衬底上制备图形石墨烯的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供一种在绝缘衬底上制备图形石墨烯的方法,包括:1)提供一绝缘衬底,于绝缘衬底上沉积锗薄膜;2)采用光刻刻蚀工艺于锗薄膜中刻蚀出所需图形,形成图形锗薄膜;以及步骤3)以所述图形锗薄膜为催化剂,在高温下生长石墨烯,同时,图形锗薄膜在高温下不断蒸发,并最终被全部去除,获得结合于绝缘衬底上的图形石墨烯。本发明通过在绝缘衬底上制备锗薄膜,并光刻刻蚀所述锗薄膜形成所需图形后,催化生长石墨烯,并在生长的同时将锗薄膜蒸发去除,获得绝缘体上图形石墨烯,克服了采用光刻刻蚀工艺对石墨烯进行刻蚀所带来的光刻胶等污染,提高了绝缘体上图形石墨烯材料的质量及性能。采用本发明的方法可以获得质量很高的图形石墨烯。 |
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