专利详情

专利名称	一种提高扫频光学相干层析成像分辨率方法
申请号	CN201710132621.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106872407A	公开（授权）日	2017.06.20
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	卢宇;李中梁;王向朝;南楠;陈艳;王瑄;潘柳华;宋思雨
主分类号	G01N21/45(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/45(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I
专利有效期	一种提高扫频光学相干层析成像分辨率方法至一种提高扫频光学相干层析成像分辨率方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种提高扫频光学相干层析成像分辨率方法，该方法需要通过实验获得一个标准k?clock信号，然后利用互相关运算计算出需要校正的k?clock信号的延时。由计算出的延时，将k?clock信号进行左右移动从而对其进行校正，并使用插值算法计算出移动后的k?clock信号的过零点坐标。再次使用插值算法在过零点坐标处对干涉信号进行插值，得到波数域等间隔的干涉信号。将此干涉信号与一个汉明窗函数相乘进行光谱整形，然后再对经过光谱整形后的干涉信号进行快速傅里叶变换，便可得到样品反射率随深度变化的一维曲线，即A?line图像。