专利详情

专利名称	光学透镜中心厚度的非接触式测量装置和测量方法
申请号	CN201710029634.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106840001A	公开（授权）日	2017.06.13
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	杨宝喜;金超群;胡小邦;张方;马健;黄惠杰
主分类号	G01B11/06(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/06(2006.01)I
专利有效期	光学透镜中心厚度的非接触式测量装置和测量方法至光学透镜中心厚度的非接触式测量装置和测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种光学透镜中心厚度非接触式测量装置和测量方法，装置的构成包括低相干光干涉测量系统、主控计算机、图像传感器、准直器、分光镜、第一透镜、第二透镜、圆柱体自定心夹持架、二维水平调节台、二维连体平移台、第一平面镜、第二平面镜、第一二维调整架、第二二维调整架、安装架和支撑面板。本发明采用反射式中心偏调节方法，可实现透镜光轴与测量系统光轴的快速共轴调节，利用两个平面镜组成的腔式结构，可对未知材料折射率的透镜中心厚度进行非接触式的精确测量。