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测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置

  • 申请号:CN201710058517.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN106772818A
  • 公开(公开)日:2017.05.31
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置
申请号 CN201710058517.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106772818A 公开(授权)日 2017.05.31
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 张攀政;李菁辉;张志祥;王利;汪涛;马伟新
主分类号 G02B6/32(2006.01)I IPC主分类号 G02B6/32(2006.01)I;G02B6/27(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I
专利有效期 测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置 至测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置,其构成为:一个脉冲激光器,一个光纤隔离器,三个光纤偏振控制器,一个光纤在线起偏器,一个1×2光纤耦合器,两个2×2光纤耦合器,两个光纤准直器,一段单模光纤,四个快速光电二极管,一台高速示波器。脉冲激光器的输出端连接到一个光纤偏振控制器的一端,光纤偏振控制器另一端连接光纤隔离器。光纤隔离器输出端与光纤在线起偏器输入端连接。在线起偏器输出端连接1×2光纤耦合器的输入端。本发明具有全光纤化、结构紧凑、调节简单、操作方便、抗外界烦扰能力强,能够单发测量大口径磁光隔离器隔离比,测量动态范围高的特点。

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