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一种用于图像传感器像素内量子效率测量的系统

  • 申请号:CN201611052887.4
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院国家空间科学中心
  • 公开(公开)号:CN106770020A
  • 公开(公开)日:2017.05.31
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种用于图像传感器像素内量子效率测量的系统
申请号 CN201611052887.4 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106770020A 公开(授权)日 2017.05.31
申请(专利权)人 中国科学院国家空间科学中心 发明(设计)人 李海涛;李保权;桑鹏;曹阳
主分类号 G01N21/39(2006.01)I IPC主分类号 G01N21/39(2006.01)I
专利有效期 一种用于图像传感器像素内量子效率测量的系统 至一种用于图像传感器像素内量子效率测量的系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种图像传感器像素内量子效率测量系统,包括:激光器、光纤分束器、声光调制器、射频合成与驱动器、偏振控制器、光开关、干涉基线、图像传感器以及计算模块;其中,激光器提供波长稳定、强度稳定的激光;光纤分束器将激光器输出的激光分成两束强度1:1的激光;两束强度1:1的激光分别输入到两个声光调制器中,声光调制器在射频合成与驱动器的控制下为两束激光形成一个差频并锁定,偏振控制器对具有差频的两束激光的偏振方向进行调节,形成四步相移干涉条纹;光开关用于将光纤中的光切换至不同的干涉基线;干涉基线用于均匀覆盖频率空间;图像传感器用于采集四步相移图像;计算模块由四步相移图像得到像素内量子效率的实域分布。

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