专利详情

专利名称	一种基于夏克?哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法
申请号	CN201611156582.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106768882A	公开（授权）日	2017.05.31
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	张俊波;张昂;鲜浩;张学军;魏凌;杨金生
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种基于夏克?哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法至一种基于夏克?哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种基于夏克?哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法，该测量方法中，采用小口径平行光源(1)入射被测光学系统(3)，通过扫描像面(5)使夏克?哈特曼波前传感器(7)处于被测光学系统(3)的共焦位置，并记录扫描角度ω'_p1，利用夏克?哈特曼波前传感器(7)测量波像差(4)引起的偏移角度ω'_p2，进而得到实际出射角ω'_p，ω'_p＝ω'_p1+ω'_p2，并根据理想出射角ω'_o，入射角ω和被测光学系统(3)焦距f'，得到不同视场状态下被测光学系统(3)的相对畸变量q和畸变量△y，△y＝qf'tanω。本发明的测量方法有效地降低了测量成本，提高了测量精度，增强了测量方法的通用性。