专利详情

专利名称	一种用于电容薄膜的褶皱识别方法及装置
申请号	CN201611136755.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106529510A	公开（授权）日	2017.03.22
申请（专利权）人	中国科学院合肥物质科学研究院;皖江新兴产业技术发展中心	发明（设计）人	刘勇;邓国庆;张龙;夏营威;张文;王依人;戴庞达
主分类号	G06K9/00(2006.01)I	IPC主分类号	G06K9/00(2006.01)I;G06K9/32(2006.01)I;G06K9/34(2006.01)I;G06K9/46(2006.01)I
专利有效期	一种用于电容薄膜的褶皱识别方法及装置至一种用于电容薄膜的褶皱识别方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用于电容薄膜的褶皱识别方法及装置，主要包括蜂窝准直弱光监测模块、自适应调焦模块、图像处理模块。自适应调焦模块配合蜂窝准直光源实现薄膜弱光检测，基于图像处理模块，合理识别薄膜质量及卷制缺陷。本发明获取在线图像，通过图像处理方法，实时监测薄膜褶皱形成，褶皱的位置及大小，及时标记产品缺陷，解决人工巡检问题的同时也填补了国内外智能化监控薄膜卷制的空白。