一种尺寸测量系统
- 申请号：CN201611219848.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号：CN106441104A
- 公开(公开)日：2017.02.22
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种尺寸测量系统 | ||
| 申请号 | CN201611219848.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN106441104A | 公开（授权）日 | 2017.02.22 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王宇庆;刘培勋;杨航 |
| 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种尺寸测量系统 至一种尺寸测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供一种尺寸测量系统，通过计算机根据接收的触发信号，控制轮廓相机与深度相机进行图像采集，并将图像采集的结果与预存图像模型进行匹配和调整；再根据接收的尺寸要求，在图像采集的结果中自动识别测量点，计算得到尺寸测量结果；该系统基于计算机的上述图像处理和控制测量过程，能够实现自动化和智能化的快速尺寸测量，解决了现有技术的问题。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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05
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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