专利详情

专利名称	一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法
申请号	CN201610644976.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106323164A	公开（授权）日	2017.01.11
申请（专利权）人	中国科学院光电研究院	发明（设计）人	何建国;韩炜;麻云凤;余锦;貊泽强;林蔚然;刘昊;陈艳中;李昊;凡炼文
主分类号	G01B11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/00(2006.01)I
专利有效期	一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法至一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法，包括搭建第一光学成像系统和第二光学成像系统；开启白光光源，通过匀光板将来自白光光源的光束照射在第一微物上；将第一微物置于第一光学成像系统的焦点处；将第二光学成像系统反向放置在第一光学成像系统后端的位置，使第二微物位于第二光学成像系统焦点位置；将观测设备置于所述第二微物后侧，使第二微物位于所述观测设备的焦点处；微调观测设备的焦距，使第二微物和第一微物缩放后的物像在观测设备上清晰显示，比较第二微物和第一微物的物像的重合精度，得到测量结果。本发明提供的基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法，解决了微物在大空间内无法测量重合度的问题。