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轴线相交度测试装置及方法

  • 申请号:CN201610625356.3
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN106289085A
  • 公开(公开)日:2017.01.04
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 轴线相交度测试装置及方法
申请号 CN201610625356.3 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106289085A 公开(授权)日 2017.01.04
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;段亚轩;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明
主分类号 G01B11/14(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/14(2006.01)I;G01C1/02(2006.01)I
专利有效期 轴线相交度测试装置及方法 至轴线相交度测试装置及方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种轴线相交度的测试方法,首先调整光电自准直仪,对准平面双面反射镜;调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数;将转台水平轴按45°间隔旋转,总共旋转360°,记录自准直经纬仪读数;旋转转台,光电自准直仪监视转台垂直轴旋转180°,调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心,记录自准直经纬仪读数再将转台水平轴按45°间隔旋转,总共旋转360°,记录自准直经纬仪读数,根据记录的数据计算轴线相交度,本发明测试方法采用非接触式两轴相交度测试方法,测试精度高,且测量方法不受标准芯棒尺寸的限制。

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