专利详情

专利名称	一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法
申请号	CN201610642705.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106294984A	公开（授权）日	2017.01.04
申请（专利权）人	中国科学院武汉岩土力学研究所	发明（设计）人	夏祥;李海波;刘亚群;于崇;刘博
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I;G06Q50/08(2012.01)I
专利有效期	一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法至一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法，其特征在于：包括对目标岩体采样进行常规物理力学特性实验和薄片分析，根据得到的岩体强度、变形特性和细观颗粒形状、胶结状态，采用计算机模拟技术重建岩体试样的数值模型，对试样的现实实验过程进行力学行为和变形过程的数值重放，考察细观裂纹数目增长随应变的变化规律，引入细观裂纹增长率这一参数，通过其峰值点对应的岩体损伤定义损伤门槛值。本发明揭示岩石细观裂纹在加载条件下的增长规律，引入细观裂纹增长率的概念，提出了一种新的确定岩体损伤门槛值的方法。通过本发明的分析方法可以得到规范化岩体损伤门槛，为其在水利水电、核电和岩土工程中的推广运用奠定完善的基础。