专利详情

专利名称	双参数扇形免疫磁层析试条
申请号	CN201610912693.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106290824A	公开（授权）日	2017.01.04
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	刘春秀;蔡浩原
主分类号	G01N33/543(2006.01)I	IPC主分类号	G01N33/543(2006.01)I;G01N33/577(2006.01)I
专利有效期	双参数扇形免疫磁层析试条至双参数扇形免疫磁层析试条	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于磁纳米粒子和层析技术的免疫磁层析多参数扇形试条。涉及磁纳米粒子修饰、磁粒子与抗体结合、层析试条制备技术、微量磁检测技术。其中磁纳米粒子修饰技术通过生物素修饰提高与抗体的结合作用；抗体进行亲和素修饰。磁层析形成的条带既可以通过颜色判断，也可以采用专用磁检测系统准确定量检测。本发明将两个单参数免疫磁层析试条通过支撑夹具固定在一起，可实现对多种病毒或传染病、生化标志物的高精度定量检测，完成特定的生化分析或疾病诊断。由于携带方便，价格低廉，在生命科学、医学和国防等领域的应用潜力巨大。