
结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法
- 申请号:CN201610832800.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院地质与地球物理研究所
- 公开(公开)号:CN106198226A
- 公开(公开)日:2016.12.07
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法 | ||
申请号 | CN201610832800.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106198226A | 公开(授权)日 | 2016.12.07 |
申请(专利权)人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明(设计)人 | 唐旭;毛圣成;谷立新;杨赛红;臧科涛;潘永信 |
主分类号 | G01N3/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N3/08(2006.01)I;G01N3/06(2006.01)I |
专利有效期 | 结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法 至结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种结合原位电子背散射衍射技术表征晶粒应变的方法。该方法包括:在扫描电镜中对试样进行原位拉伸试验,并在试样拉伸至设定的不同宏观应变阶段时,对每个宏观应变阶段的试样进行原位的电子背散射衍射晶体取向扫描,以获取该宏观应变阶段的试样的原位的晶体取向信息和晶粒尺寸参数信息;基于所述晶体取向信息,利用电子背散射衍射技术的应变分析方法定性地表征出试样在塑性变形过程中的晶粒应变;以及基于所述晶粒尺寸参数信息,通过设定的方式得出能够反映晶粒应变的目标参数,通过该目标参数的变化,定量地表征试样在塑性变形过程中的晶粒应变。本发明能够定性、定量地表征材料在塑性变形过程中的晶粒应变。 |
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