专利详情

专利名称	一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法
申请号	CN201610707167.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106125364A	公开（授权）日	2016.11.16
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	杜升平;傅承毓;黄永梅;罗传欣;徐少雄
主分类号	G02F1/13(2006.01)I	IPC主分类号	G02F1/13(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法至一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提出一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法，该方法利用液晶构建相位调制分别为0和的光栅，通过傅里叶光学的方法分析衍射光栅0级衍射主极大处光强和调制相位的关系，将光强值对应到调制相位，再根据实测光强和供电电压的对应关系，就得到了相位值和供电电压的对应关系，也就是液晶相位光栅的相位调制特性。本发明能准确、方便、快捷的测量出液晶的调制相位特性，是一种切实可行的测量方法。