专利详情

专利名称	应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法
申请号	CN201610409009.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106066919A	公开（授权）日	2016.11.02
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	陈黎明;黑勇;袁甲
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法至应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法，包括：降低标准单元库的工作电压至阈值电压附近，对近/亚阈值标准单元库进行功能仿真与特征化建模；采用概率延时分析算法对路径延时进行快速分析与排序；采用Monte?Carlo分析策略以及3σ判决标准对可疑路径精确分析，进一步提高时序可靠性。本发明针对近/亚阈值数字电路时序分析的可靠性问题，提出一种精确、可靠、快速的统计静态时序分析方法，充分考虑工艺偏差对路径时序的影响，解决了近/亚阈值数字电路时序分析的可靠性问题。与传统的静态时序分析方法以及基于Hspice的时序仿真方法相比，本发明在时序分析准确性和效率方面优势显著。