专利详情

专利名称	一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法
申请号	CN201610451484.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106066339A	公开（授权）日	2016.11.02
申请（专利权）人	深圳先进技术研究院	发明（设计）人	陈昳丽;符吉祥;李栓;刘云;储大为;江帆;谢耀钦;王磊
主分类号	G01N23/223(2006.01)I	IPC主分类号	G01N23/223(2006.01)I
专利有效期	一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法至一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及计算机控制技术领域，具体涉及一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统，本发明包括：环形轨道，所述环形轨道上接有直线轨道，所述直线轨道的两末端分别与环形轨道相接，所述环形轨道上活动设置有第一支架，所述第一支架上设有相机，所述相机朝向环形轨道的内侧，所述直线轨道上分别活动设置有第二支架和第三支架，所述第二支架上设有X射线源，所述第三支架上设有样品存放部，所述X射线源的发光端设置于样品存放部的前方，且与该样品存放部相对准，所述样品存放部的后方设有X射线探测器。本发明在不伤害实验人的情况下，可以对成像系统进行操作，不用反复开关X射线源，从而解决实验操作不便的问题。