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光学仪器低温环境测试箱

  • 申请号:CN201510117445.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院寒区旱区环境与工程研究所
  • 公开(公开)号:CN106033024A
  • 公开(公开)日:2016.10.19
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 光学仪器低温环境测试箱
申请号 CN201510117445.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106033024A 公开(授权)日 2016.10.19
申请(专利权)人 中国科学院寒区旱区环境与工程研究所 发明(设计)人 芮鹏飞;陈继
主分类号 G01M11/00(2006.01)I IPC主分类号 G01M11/00(2006.01)I
专利有效期 光学仪器低温环境测试箱 至光学仪器低温环境测试箱 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种光学仪器低温环境测试箱,该测试箱包括真空双层玻璃制成且内设上层腔体、中层腔体、下层腔体的箱体和设在所述箱体顶部与电源相连的单片机。上层腔体与中层腔体之间、中层腔体与下层腔体之间均设有隔板,该隔板上设有对称分布的通气孔;上层腔体通过空气循环管直接与下层腔体相连;上层腔体的一侧设有带电机的风扇;上层腔体与中层腔体相接处的隔板上设有制冷液循环管,该制冷液循环管外接制冷机;下层腔体的一侧设有温度传感器;单片机分别与风扇、温度传感器相连,并外接键盘和液晶显示屏。本发明成本低、操作简单,可以为待测光学仪器提供不受空间范围限制的低温测试环境。

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