
光学仪器低温环境测试箱
- 申请号:CN201510117445.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院寒区旱区环境与工程研究所
- 公开(公开)号:CN106033024A
- 公开(公开)日:2016.10.19
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 光学仪器低温环境测试箱 | ||
申请号 | CN201510117445.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106033024A | 公开(授权)日 | 2016.10.19 |
申请(专利权)人 | 中国科学院寒区旱区环境与工程研究所 | 发明(设计)人 | 芮鹏飞;陈继 |
主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I |
专利有效期 | 光学仪器低温环境测试箱 至光学仪器低温环境测试箱 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种光学仪器低温环境测试箱,该测试箱包括真空双层玻璃制成且内设上层腔体、中层腔体、下层腔体的箱体和设在所述箱体顶部与电源相连的单片机。上层腔体与中层腔体之间、中层腔体与下层腔体之间均设有隔板,该隔板上设有对称分布的通气孔;上层腔体通过空气循环管直接与下层腔体相连;上层腔体的一侧设有带电机的风扇;上层腔体与中层腔体相接处的隔板上设有制冷液循环管,该制冷液循环管外接制冷机;下层腔体的一侧设有温度传感器;单片机分别与风扇、温度传感器相连,并外接键盘和液晶显示屏。本发明成本低、操作简单,可以为待测光学仪器提供不受空间范围限制的低温测试环境。 |
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