专利详情

专利名称	内建自测试方法、装置及片上系统
申请号	CN201510062392.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN105988077A	公开（授权）日	2016.10.05
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	冯燕;陈岚
主分类号	G01R31/316(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/316(2006.01)I;G01R31/3167(2006.01)I
专利有效期	内建自测试方法、装置及片上系统至内建自测试方法、装置及片上系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明实施例公开了一种内建自测试装置，包括与模拟/混合信号电路相连接的测试控制电路；与所述测试控制电路相连接的测试图形生成电路和测试响应分析电路；与所述测试响应分析电路相连接的存储器；所述测试图形生成电路和所述测试响应分析电路还分别与所述模拟/混合信号电路相连接；其中，所述测试响应分析电路包括故障检测模块和参数计算模块；所述测试控制电路用于在监测到测试模式信号时，指示所述测试图形生成电路生成与所述测试模式相对应的测试图形，并指示所述测试响应分析电路切换至与所述测试模式相对应的工作模式。可以实现对模拟/混合信号电路的多方式测试。本申请实施例还提供一种内建自测试方法及片上系统。