
一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置
- 申请号:CN201710140962.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN106872038A
- 公开(公开)日:2017.06.20
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置 | ||
申请号 | CN201710140962.0 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106872038A | 公开(授权)日 | 2017.06.20 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 魏儒义;胡炳樑;李洪波;张智南;于建冬;王飞橙;于涛;高晓惠 |
主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置 至一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提出一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置,该装置包括依次设置的共光路干涉分光光路、色散分光光路以及光电探测器;所述共光路干涉分光光路采用非对称结构的共光路Sagnac干涉仪,使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合,而是在空间上平行分离;在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构,使得两路一级光束最终产生光程差,以干涉光束出射;其中一路干涉光束经会聚后到狭缝上,该狭缝成为色散分光光路的入射像面位置;另一路干涉光束即所述最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束也经会聚后进入色散分光光路。 |
交易流程
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专利 -
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