
一种评估并量化点蚀坑内部腐蚀产物对点蚀生长速率影响的方法
- 申请号:CN201710001000.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院海洋研究所
- 公开(公开)号:CN106680340A
- 公开(公开)日:2017.05.17
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种评估并量化点蚀坑内部腐蚀产物对点蚀生长速率影响的方法 | ||
申请号 | CN201710001000.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106680340A | 公开(授权)日 | 2017.05.17 |
申请(专利权)人 | 中国科学院海洋研究所 | 发明(设计)人 | 徐玮辰;于菲;李言涛;侯保荣 |
主分类号 | G01N27/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/26(2006.01)I;G01N27/49(2006.01)I |
专利有效期 | 一种评估并量化点蚀坑内部腐蚀产物对点蚀生长速率影响的方法 至一种评估并量化点蚀坑内部腐蚀产物对点蚀生长速率影响的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及电化学中的腐蚀防护,具体地说是一种评估点蚀坑内部腐蚀产物对点蚀生长速率影响的方法。具体为:以微电极的电化学体系为背景,利用恒电位对微电极进行阳极极化,获得点蚀坑底部到点蚀外部的一维扩散,通过对有和无腐蚀产物条件下的阳极电流进行测量和对比,评估点蚀内部腐蚀产物对点蚀生长速率的影响。本发明方法通过操作简便的电化学方法即可得出点蚀内部腐蚀产物对物质扩散的影响,进而量化点蚀内部的腐蚀产物对点蚀生长速率的影响,由此对扩散系数进行修正,完善点蚀生长和预测模型。点蚀内部生成腐蚀产物是比较常见的现象,生成腐蚀产物的原因也多种多样,而文献中却无对其影响进行量化的方法。这种简单的实验方法对点蚀生长和预测模型的建立具有重要的参考价值。该方法操作简便,应用范围广泛,适用于多种金属和多种条件。 |
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