专利详情

专利名称	用于小角X射线散射实验的原位装置
申请号	CN201610955590.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106290426A	公开（授权）日	2017.01.04
申请（专利权）人	中国科学院上海应用物理研究所	发明（设计）人	贺周同;曾建荣;田丰;唐辉;戚威;汪雪;张灿;夏汇浩
主分类号	G01N23/201(2006.01)I	IPC主分类号	G01N23/201(2006.01)I
专利有效期	用于小角X射线散射实验的原位装置至用于小角X射线散射实验的原位装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用于小角X射线散射实验的原位装置。该装置包括：真空及气氛保护系统、应力加载及测量系统、温度加载及测量系统；本发明在应力加载系统中采用拉?压应力转换设计实现在应力加载过程中样品的自对中；本发明在加温及测量系统中采用特殊设计，在实现宽X射线通道的同时保证温度场的均匀，同时样品的加温温度可达1100摄氏度。本发明结构简单、性能可靠、测量精度高，可在真空或气氛保护环境下同时对样品进行温度、应力加载。本发明配合同步辐射小角X射线散射线站使用，可对被测样品进行在力学使役环境下的微观变形，损伤和断裂过程进行原位检测，为揭示脆性材料样品的形变、微观结构在应力下的变化提供了有效、可靠的测试手段。