专利详情

专利名称	用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置
申请号	CN201820901568.4	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN208350332U	公开（授权）日	2019.01.08
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	刘强;王欣;窦永昊;黄庚华;何志平;舒嵘
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置至用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置	法律状态
说明书摘要	本专利公开了一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置。立方棱镜光校装置采用一个立方棱镜办法折转两束激光束成180度夹角，实现了望远镜光学系统光轴与参考标准平面镜法线平行的初始调节；再采用两块平行平板的平行关系，解决了望远镜光轴与参考平面镜法线平行的高精度精密调节。本专利攻克了望远镜装调过程光轴漂移引起像质变化的难题，实现了被测试系统状态的实时高精度监控，光路结构简单，粗调与精调相结合，大大提高了光校效率。采用本专利所述的光校装置，不仅适用望远镜光学系统光轴与标准平面镜法线的配准与实时监测，还适用于标定相对的两块反射镜面的夹角、两块光学平板的夹角等其它光校领域。