专利详情

专利名称	一种强电离辐射环境下的温度测量系统
申请号	CN201820693659.3	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN208206333U	公开（授权）日	2018.12.07
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	杨俊亮;张小威;赵越;朱晔;李瑭
主分类号	G01K11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01K11/00(2006.01)I
专利有效期	一种强电离辐射环境下的温度测量系统至一种强电离辐射环境下的温度测量系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开了一种强电离辐射环境下的温度测量系统。本系统包括光源、波长选择器、探测器和机械控制测量装置；其中，该波长选择器仅允许经待测晶体表面产生的中心波长为λ的衍射光束输出；所述光源，用于产生入射到待测晶体表面的入射光束；所述机械控制测量装置分别与该波长选择器、待测晶体连接，用于调整该波长选择器的位置，使其接收入射光束经该待测晶体表面产生的中心波长为λ的衍射光束；以及改变该待测晶体与入射光束之间的入射角度；所述探测器，用于测量该波长选择器输入的光束强度。本实用新型既解决了强电离辐射环境下温度测量问题，同时也精确测得了强电离辐射环境下晶体表面的温度值。