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宽温域磁通温度特性测量装置

  • 申请号:CN201820705324.9
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所
  • 公开(公开)号:CN208110021U
  • 公开(公开)日:2018.11.16
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 宽温域磁通温度特性测量装置
申请号 CN201820705324.9 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN208110021U 公开(授权)日 2018.11.16
申请(专利权)人 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 发明(设计)人 孙颖莉;刘雷;赵江涛;张鑫;李东;闫阿儒
主分类号 G01R33/12(2006.01)I IPC主分类号 G01R33/12(2006.01)I
专利有效期 宽温域磁通温度特性测量装置 至宽温域磁通温度特性测量装置 法律状态
说明书摘要 本实用新型公开了一种宽温域磁通温度特性测量装置。所述的装置包括:样品室,其包括分别用于放置标准样品(6)、待测样品(7)的恒温腔室(11)、变温腔室(12);感应信号采集系统,其用于检测待测样品(7)与标准样品(6)的磁通信号差值;温度探测及控制系统,其至少用于对变温腔室(12)的温度进行调控和测量;计算机控制和处理系统(5),其与所述感应信号采集系统和温度探测及控制系统连接,并至少用于控制所述温度探测及控制系统的工作状态。本实用新型提供的宽温域磁通温度特性测量装置结构简单,使用方便,提高了磁通信号测量的精度,适合测量温度系数优于?1%%/℃的低温度系数永磁材料。

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