专利详情

专利名称	用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备
申请号	CN201820917689.8	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN208206852U	公开（授权）日	2018.12.07
申请（专利权）人	中国科学院理化技术研究所	发明（设计）人	沈福至;徐冬;李旭;李来风;刘辉明;张恒成;王永光;黄荣进;李健;李墨囡;董虹妤;张凯凯;吕秉坤
主分类号	G01N25/20(2006.01)I	IPC主分类号	G01N25/20(2006.01)I
专利有效期	用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备至用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开了一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备。其中样品杆装置包括真空管，真空罩体，悬置在真空罩体容腔内的导热板以及放置在导热板板面上的样品组件；样品组件包括稳温端底座，发射端顶座以及屏蔽罩体；稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔；样品组件还包括有悬置于所述容纳腔内的吸收端样品件以及发射端样品件。本实用新型提供的样品杆装置可实现低温环境下不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试；此外本实用新型提供的测试设备，通过以制冷机为冷源的低温装置与样品杆装置的配合，使得低温环境下对不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试操作更简便，测试的可靠性及效率更高。