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一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器

  • 申请号:CN201710039152.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海应用物理研究所
  • 公开(公开)号:CN106802428A
  • 公开(公开)日:2017.06.06
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器
申请号 CN201710039152.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106802428A 公开(授权)日 2017.06.06
申请(专利权)人 中国科学院上海应用物理研究所 发明(设计)人 佟亚军;谢红兰;陈敏;杜国浩;邓彪;朱化春;肖体乔
主分类号 G01T1/202(2006.01)I IPC主分类号 G01T1/202(2006.01)I
专利有效期 一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器 至一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器,其用于探测入射的X射线光束,包括闪烁体、耦合系统以及可见光探测器,其中,所述闪烁体在所述X射线光束的作用下生成可见光,所述耦合系统将所述可见光传输至所述可见光探测器,从而探测所述X射线光束,其中:所述耦合系统包括全反射式物镜、反射平面镜以及投影透镜组,其中:所述全反射式物镜基于所述可见光对所述闪烁体成像生成可见光束;所述反射平面镜将所述可见光束反射至所述投影透镜组,并且不反射所述X射线光束;所述投影透镜组将接收到的可见光束投影至所述可见光探测器。本发明提供的X射线成像探测器耐辐射并且耐高热负载,可以用在高功率密度的X射线成像探测领域。

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