专利详情

专利名称	光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法
申请号	CN201710029641.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106813901A	公开（授权）日	2017.06.09
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	钟朝阳;刘源;周翠芸;马秀华;孟俊清;侯霞;陈卫标
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法至光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法，装置主要包括双频He?Ne激光器、偏振分光镜、半波片、45°高反镜、偏振片、光电探测器。采用外差探测技术，线偏振光经过待测光学器件的快轴慢轴后分别与参考频率光拍频，使用光电探测器接收拍频信号，比较拍频信号的相位差，从而实现相位器件相位延迟量的精确测量。本发明可以测量光学器件任意波段的相位延迟量，具有结构简单紧凑，使用方便，抗环境干扰能力强，易于集成、相位延迟量测量精确的特点。