专利详情

专利名称	光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法
申请号	CN201611039171.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106596058A	公开（授权）日	2017.04.26
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	刘世杰;王圣浩;王微微;倪开灶;徐天柱;鲁棋;潘本威
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I;G01J3/30(2006.01)I
专利有效期	光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法至光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种用于平面光栅的光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法，测量装置主要包括激光光源、单色器、光阑、偏振片、分束镜、待测光栅、光电探测器、正弦机械结构和电子学控制等部分。本发明的优点是：(1)显著提高了光栅衍射效率光谱的测量速度，可以实现光栅衍射效率光谱的快速测量，如应用于观测光栅衍射效率光谱特性在温度、湿度以及激光辐照损伤等环境因素下的动态变化过程；(2)在测量过程中，仪器的机械构件始终保持匀速运动状态，测试系统因而具有较高的机械稳定性；(3)测量仪器具有较高的工作效率。