专利详情

专利名称	一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法
申请号	CN201610710865.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106404352A	公开（授权）日	2017.02.15
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	张俊波;张昂
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法至一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法	法律状态	公开
说明书摘要	本发明涉及一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法，该测量方法中，平行光源(1)直接入射被测大视场望远镜(6)，视场改变是通过调整平行光源(1)的倾斜和俯仰姿态实现，全视场测量过程中，被测大视场望远镜(6)保持固定状态，计算机(3)、波前探测器(4)及其运动台(5)组成闭环定位结构，准确测量并定位被测大视场望远镜(6)像点的空间位置，对比像点的理想位置，拟合得到被测大视场望远镜(6)光学系统的畸变和场曲。本发明的测量方法操作简单高效、测量精度高，并能实现自动检测，为大视场望远镜光学系统校正畸变和场曲提供了可靠的测量数据。