专利详情

专利名称	一种基于MIPI D?PHY协议的回路测试系统
申请号	CN201610807744.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106370999A	公开（授权）日	2017.02.01
申请（专利权）人	中国科学院上海高等研究院;上海市信息技术研究中心	发明（设计）人	王鹏;吴涛;高鹏
主分类号	G01R31/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/28(2006.01)I
专利有效期	一种基于MIPI D?PHY协议的回路测试系统至一种基于MIPI D?PHY协议的回路测试系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种基于MIPI?D?PHY协议的回路测试系统，包括：封装于同一块测试片中的D?PHY受控模块、D?PHY主控模块、回路模块和控制模块；所述D?PHY受控模块和所述D?PHY主控模块分属不同时钟域，分别通过PPI总线与所述回路模块相连；所述回路模块通过PPI总线在所述D?PHY受控模块和所述D?PHY主控模块之间接收和转发数据；所述控制模块分别与所述D?PHY受控模块、所述D?PHY主控模块和所述回路模块连接，控制所述D?PHY受控模块、所述D?PHY主控模块和所述回路模块的参数配置。本发明的测试系统良好地实现了跨时钟域的集成测试，同时将两个单独使用的芯片模块集成于一款测试片中的设计，简化了D?PHY芯片验证的复杂度。