专利详情

专利名称	一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法
申请号	CN201610707394.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106323599A	公开（授权）日	2017.01.11
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	张俊波;张昂
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法至一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法，包括以下步骤：第一步：基准视场标定；第二步：测量视场改变，调整平行光源(1)的出射角度；第三步：波前探测器(4)定位，根据定位闭环结构调整六维运动台(5)的位置和姿态，直至波前探测器(4)与被测大视场望远镜(6)处于共焦位置；第四步：成像质量检测，依据波前探测器(4)的测量数据，利用波前复原算法，得到被测大视场望远镜(6)的成像质量；重复第二步至第四步，直至完成全视场范围的检测。本发明解决了大视场望远镜光学系统成像质量的检测问题，克服了目前以中心视场成像质量近似表示全视场成像质量的不足，实现了全视场的自动检测，提高了检测准确度。