
光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法
- 申请号:CN201610647092.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN106248046A
- 公开(公开)日:2016.12.21
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法 | ||
申请号 | CN201610647092.1 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106248046A | 公开(授权)日 | 2016.12.21 |
申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 唐玉国;糜小涛;吉日嘎兰图;冯树龙;张善文;齐向东;巴音贺希格 |
主分类号 | G01C1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C1/00(2006.01)I |
专利有效期 | 光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法 至光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法,其包括安装座、旋转台和观察镜,其中,安装座用于待检测刀架的安装与定位,而旋转台包括固定部和旋转部,旋转部和固定部沿周向均具有角度刻度,安装座安装在旋转部上;观察镜具有位于基准位置的定位标识,观察镜能够与旋转台相对。使用该装置时,将带有光栅刻划刀的刀架安装于定位好的安装座上,而安装座固定在旋转部上,调整旋转台的位置于基准位置,使旋转台与观察镜相对,然后转动旋转部使光栅刻划刀的刀刃与定位标识重合,此时,旋转部相对于固定部的转动角度即为光栅刻划刀的方位角。本申请中的测量装置可直接测得方位角,不需要重复操作,准确性高、效率高。 |
交易流程
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专利 -
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