一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法
- 申请号:CN201610365843.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院新疆天文台
- 公开(公开)号:CN106025550A
- 公开(公开)日:2016.10.12
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法 | ||
申请号 | CN201610365843.0 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106025550A | 公开(授权)日 | 2016.10.12 |
申请(专利权)人 | 中国科学院新疆天文台 | 发明(设计)人 | 项斌斌;王从思;连培园;张树新;保宏;王伟;王娜;陈卯蒸;许谦;刘志勇;王凯 |
主分类号 | H01Q3/02(2006.01)I | IPC主分类号 | H01Q3/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法 至一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法,该方法从天线电性能角度出发,确定了副反射面位置调整参数与远场电性能的关系式,并以副面调整后天线远场电性能最优为目标,建立了以副面调整参数为变量的优化模型,采用合适的优化算法,在可行域内获得了副面位置的最佳调整参数。依据该最佳调整参数驱动副面运动,实现副面位置偏差补偿。本发明主要用于解决现有双反射面天线因结构变形无法快速测量,进而难以快速确定副面最佳位置的问题,可用于指导大型双反射面天线进行副面最佳位置调整,以减小因天线结构变形引起的副面位置偏差影响,使其电性能达到最优。 |
交易流程
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