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一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法

  • 申请号:CN201610365843.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院新疆天文台
  • 公开(公开)号:CN106025550A
  • 公开(公开)日:2016.10.12
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法
申请号 CN201610365843.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106025550A 公开(授权)日 2016.10.12
申请(专利权)人 中国科学院新疆天文台 发明(设计)人 项斌斌;王从思;连培园;张树新;保宏;王伟;王娜;陈卯蒸;许谦;刘志勇;王凯
主分类号 H01Q3/02(2006.01)I IPC主分类号 H01Q3/02(2006.01)I
专利有效期 一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法 至一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法,该方法从天线电性能角度出发,确定了副反射面位置调整参数与远场电性能的关系式,并以副面调整后天线远场电性能最优为目标,建立了以副面调整参数为变量的优化模型,采用合适的优化算法,在可行域内获得了副面位置的最佳调整参数。依据该最佳调整参数驱动副面运动,实现副面位置偏差补偿。本发明主要用于解决现有双反射面天线因结构变形无法快速测量,进而难以快速确定副面最佳位置的问题,可用于指导大型双反射面天线进行副面最佳位置调整,以减小因天线结构变形引起的副面位置偏差影响,使其电性能达到最优。

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