摆镜特性参数测试装置及测试方法
- 申请号:CN201610431205.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN106017864A
- 公开(公开)日:2016.10.12
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 摆镜特性参数测试装置及测试方法 | ||
申请号 | CN201610431205.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106017864A | 公开(授权)日 | 2016.10.12 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 刘尚阔;薛勋;赵建科;周艳;李坤;段亚轩;田留德;昌明;曹昆 |
主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I |
专利有效期 | 摆镜特性参数测试装置及测试方法 至摆镜特性参数测试装置及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种摆镜特性参数测试装置及测试方法。装置包括光源组件、显影屏、光斑中心获取系统和放置在光源组件出射光路上的摆镜;在光源组件的出射端口处安装有光阑,光阑具有多个大小不同的圆形通光孔;显影屏位于摆镜的反射光路上,能接收摆镜在各位置的反射光,摆镜的反射光在显影屏上形成光斑;光斑中心获取系统用于记录显影屏上的光斑图像及其中心坐标。方法包括步骤:1)对光源组件、显影屏和光斑中心获取系统的位置关系进行标定;2)打开光源组件,其发出的平行光经摆镜反射后在显影屏上形成光斑;3)获取显影屏上的光斑图像及其中心坐标;4)对步骤3)中所得数据处理,得到摆镜特性参数。本发明测角范围大、测量效率高。 |
交易流程
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专利 -
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平台保障
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