专利详情

专利名称	一种大口径均匀光源的均匀性测试装置
申请号	CN201820401439.9	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN208012837U	公开（授权）日	2018.10.26
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	昌明;赵建科;李晶;薛勋;曹昆;胡丹丹
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种大口径均匀光源的均匀性测试装置至一种大口径均匀光源的均匀性测试装置	法律状态
说明书摘要	本实用新型涉及光学测试技术领域，针对现有均匀光源均匀性测试装置中，面均匀性测试装置有效扫描区域不完整，角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要，提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置，其包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统；升降装置设置在支架上，载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上；载物台设置旋转电机，摆臂安装在旋转电机的输出端；滑块安装在摆臂上，光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上，光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。