专利详情

专利名称	基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法
申请号	CN201711122625.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107966337A	公开（授权）日	2018.04.27
申请（专利权）人	中国科学院地质与地球物理研究所	发明（设计）人	杨赛红;闫欣;陈意;李秋立;唐旭;谷立新;苏本勋
主分类号	G01N1/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01N1/28(2006.01)I
专利有效期	基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法至基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基性?超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，包括：将所述薄片样品上的基性?超基性岩样品划分为多个子区域；对所述薄片样品喷镀导电材料；通过扫描电镜能谱仪寻找基性?超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图；将电镜的基性?超基性岩样品中出现锆元素峰的位置导航到可见的视野中；确定视野内的基性?超基性岩样品中的斜锆石矿物的位置；在基性?超基性岩样品上对所述斜锆石矿物的位置进行标记；钻取标记好的所述矿物斜锆石。本发明能够解决难以从基性?超基性岩中分选出斜锆石的问题。