一种姿态测量装置
- 申请号：CN201611133624.6
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号：CN106525100A
- 公开(公开)日：2017.03.22
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种姿态测量装置 | ||
| 申请号 | CN201611133624.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN106525100A | 公开（授权）日 | 2017.03.22 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王东平;吴志会;倪明阳;张德福;杨怀江;隋永新 |
| 主分类号 | G01D5/58(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D5/58(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种姿态测量装置 至一种姿态测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明的目的在于提供一种测量传感装置，利用柔性铰链的并联机构实现微小六自由度位移的一级放大和角度转化，再利用光杠杆原理实现被测物体位移的二级放大，将纳米级微小六自由度微位移放大为位置探测器可以测量的μm级位移，从而用低成本的测量方案实现了六自由度微位移高精度测量，具有低成本、高精度、便于集成的优点。 | ||
交易流程
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