专利详情

专利名称	用于光学元件性能检测的试验台
申请号	CN201820097487.3	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN207894592U	公开（授权）日	2018.09.21
申请（专利权）人	中国科学院光电研究院	发明（设计）人	齐威;齐月静;王宇;卢增雄;李兵
主分类号	G01M11/04(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/04(2006.01)I
专利有效期	用于光学元件性能检测的试验台至用于光学元件性能检测的试验台	法律状态
说明书摘要	本实用新型属于光学元件性能检测设备技术领域，具体涉及一种用于光学元件性能检测的试验台。该试验台包括基座和工件台，所述基座用于支撑所述工件台并能够带动所述工件台共同移动，所述工件台上设有横向调节单元，所述基座包括支撑板，所述支撑板的下方设有可移动单元，所述可移动单元和所述支撑板之间设有高度调节单元，所述支撑板的上方的两个对称面上设有纵向调节单元，所述试验台的左、右两侧机架上均设有纵向限位单元。通过使用本实用新型所述的用于光学元件性能检测的试验台，能够为工件台提供一个可调节的安装基准面，同时装置本身具有能够实现平移运动，在工件台搬运过程中无需借助外部工具，简化了搬运过程。