专利详情

专利名称	一种基于磁富集和全内反射的光学检测仪
申请号	CN201610266441.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN105929149A	公开（授权）日	2016.09.07
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	刘春秀;贾建;蔡浩原;刘昶
主分类号	G01N33/53(2006.01)I	IPC主分类号	G01N33/53(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I
专利有效期	一种基于磁富集和全内反射的光学检测仪至一种基于磁富集和全内反射的光学检测仪	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于磁富集和全内反射的光学检测仪，其特征在于，其包括：电控双磁场富集分离系统、光学检测系统和恒温加热系统，所述电控双磁场富集分离系统用于产生交替的磁场，以实现对芯片上磁粒子的双向驱动和富集；所述光学检测系统采用全内反射检测技术，以实现光学图像的检测和分析处理；所述恒温加热系统包括温度传感器和加热片，用于控制检测环境的温度。本发明的检测仪采用电控双磁场技术、全内反射光学检测技术和图像分析软件技术，实现样品中低浓度物质的自动快速检测，仪器便携、一步操作、简单快捷。