专利详情

专利名称	全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆
申请号	CN201610408612.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN105823908A	公开（授权）日	2016.08.03
申请（专利权）人	中国科学院宁波材料技术与工程研究所;兰州大学	发明（设计）人	夏卫星;郑修军;彭勇;关超帅;胡阳;杨保林;张军伟;马鸿斌;薛德胜
主分类号	G01Q30/20(2010.01)I	IPC主分类号	G01Q30/20(2010.01)I
专利有效期	全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆至全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括DEWAR固定圈、DEWAR外罐上部、DEWAR外罐下部、导向销、样品杆外壳、密封圈、固定件和样品杆头、DEWAR內罐上部、DEWAR內罐下部、加热模块、固定板、真空电学接头、导线孔、样品杆内杆、PCB转接板，原位测试芯片。本发明在大温区设计的基础上，可以直接在样品处添加电学信号进行样品材料热电性能研究。采用液氮实现低温及高温冷却功能，快速制冷降温；样品杆头采用可拆卸方式，可以更换扩展功能，实现单一低温、高温或同时实现全温区；加热模块采用芯片微区加热方式，降低热接触，减小热漂移。使用加大工作微区设计，测温元件采用电阻信号变化检测，可以实现实时准确的温度检测。