一种用于点源透过率测试的改进型腔体
- 申请号：CN201820061726.X
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN207742114U
- 公开(公开)日：2018.08.17
- 法律状态：
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 一种用于点源透过率测试的改进型腔体 | ||
| 申请号 | CN201820061726.X | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN207742114U | 公开（授权）日 | 2018.08.17 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李朝辉;李晓辉;赵建科;徐亮;刘峰;张玺斌;于敏 |
| 主分类号 | G01N21/59(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/59(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种用于点源透过率测试的改进型腔体 至一种用于点源透过率测试的改进型腔体 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型属于光学系统杂散光测试领域，涉及一种用于点源透过率测试的改进型腔体。包括密封腔体及设置在密封腔体外部的光陷阱；密封腔体的侧壁由横截面为优弧的两个曲面对接而成；两个曲面的对接处设入光口；密封腔体的顶部与底部通过平板密封；光陷阱位于与入光口相对的两个曲面的对接处；光陷阱的横截面为等腰梯形。排除了PST测试结果中的“尖峰”噪点。 | ||
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言