专利详情

专利名称	一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统
申请号	CN201820024768.6	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN207743192U	公开（授权）日	2018.08.17
申请（专利权）人	中国科学院金属研究所	发明（设计）人	邰凯平;王忠良
主分类号	H01J37/20(2006.01)I	IPC主分类号	H01J37/20(2006.01)I;H01J37/26(2006.01)I
专利有效期	一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统至一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型涉及透射电子显微镜配件及低维材料原位测量研究领域，具体为一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统。该系统包括：用于传导电信号的高真空圆形气密连接器、表面绝缘的中空样品杆框架、置于样品杆框架内的导线、陶瓷加热片、热敏电阻、控温单元、加热芯片等。热敏电阻和陶瓷加热集成于微型样品台上，通过导线和圆形气密连接器与外部电路单元连接，用于监控微型样品台的加热温度、加热速率和温度稳定性；加热芯片置于微型样品台上，可进一步对样品微区进行温度调控。本实用新型最大限度地实现在真空环境中和加热、加电外场条件下对材料宏观性能的原子尺度测量与研究，广泛适用于探究各种高温相变、电学性能、热电性能、化学反应等。