结构光投影快速测量装置
- 申请号：CN201820076413.1
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN207741710U
- 公开(公开)日：2018.08.17
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 结构光投影快速测量装置 | ||
| 申请号 | CN201820076413.1 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN207741710U | 公开（授权）日 | 2018.08.17 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 宋宗玺;李宝鹏;雷浩;淡丽军;王峰涛;孙忠涵;李伟;成鹏飞;高伟;樊学武 |
| 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
| 专利有效期 | 结构光投影快速测量装置 至结构光投影快速测量装置 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型属于光电检测领域，具体涉及一种结构光投影快速测量装置。测量装置包括相机和布置在相机周围的光学投影系统，所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源，光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图；N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差，N个光源分别通过同步电路与相机相连。本实用新型解决了现有的测量设备体积大、质量重且测量速度慢的技术问题。 | ||
交易流程
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