专利详情

专利名称	一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法
申请号	CN201710398214.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107271033A	公开（授权）日	2017.10.20
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	李秀荣;肖刚;左雄;冯少辉;李骢;王玲玉;程宁
主分类号	G01J1/42(2006.01)I	IPC主分类号	G01J1/42(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I
专利有效期	一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法至一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法。本方法为：1)将选取的内壁为高反射Tyvek材料的圆柱形探测器充满纯净空气，并设置一个光电倍增管；2)利用选取的光源在该探测器里照射，用光电倍增管采集光信号；3)改变该探测器内壁的反射面积，重复步骤2)；然后根据采集的光信号拟合得到不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’；4)根据步骤3)得到的数据，利用1/λ’＝?ln(f)/L?ln(r)/L拟合λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，同时测量出空气中Tyvek的反射率和平均反射步长。本方法操作简单且误差小精度高，原理新颖，具有很强的应用价值。